Magnesium is considered one of the most promising
materials for reversible hydrogen storage, because
it has high storage capacity. However, the high thermodynamic
stability of magnesium hydride is unfavorable for
dehydrogenation processes. Understanding the bonding
nature of Mg and H is essential for improving its
dehydrogenation performance. Therefore, the charge
density distribution in MgH2
was measured. Charge density is typically investigated
by X-ray diffraction, but the diffraction intensity
from hydrogen atoms is very weak. So far, analyzing
the hydrogen in metal hydrides by X-ray diffraction
has been difficult. We have overcome this difficulty
with precise powder diffraction measurement by synchrotron
radiation, which is a highly-brilliant X-ray source.
The charge density was analyzed by the MEM/Rietveld
method from the measurement data. The results show
weak covalent bonds between Mg and H as well as between
H and H. The charge density in the interstitial region
is extremely low, which denies the existence of metallic
bonding. As a result of estimation of the number of
electrons within the sphere around the Mg and the
H atoms, the ionic charge in MgH2
was represented as Mg1.91+H0.26-.
We experimentally revealed that the crystal of MgH2
is stabilized by ionic and weak covalent bonding.
We consider that its ionic bonding must be made weaker
in order to improve the dehydrogenation performance
of MgH2.
マグネシウムは軽量で水素吸蔵量が多いことから,水素貯蔵材料として有望である。しかし,その水素化物MgH
2は熱力学的に非常に安定であるため,水素を放出しにくい特性を持っている。水素放出特性改善には,MgとHの結合状態の解明が重要である。そこで,MgH
2の電荷密度分布測定を行った。電荷密度分布はX線回折により解析できるが,水素からのX線回折強度は非常に弱く,これまでX線による金属水素化物中の水素の解析は困難であるとされてきた。そこで,強力なX線源である放射光を用いて精密な粉末X線回折測定を行い,MEM/Rietveld法により電荷密度を解析した。その結果,MgとH間およびHとH間に弱い共有性結合があること,格子間の電荷密度は非常に低く,金属性結合はないことが明らかになった。また,MgおよびH原子のまわりの球内の電子数を見積ることにより,MgH
2のイオン価数はMg
1.91+H
0.26-と表されることがわかった。MgH
2結晶はイオン性結合と弱い共有性結合によって安定化していることが実験的に解明された。MgH
2の水素放出特性を改善するにはイオン結合性をさらに弱めることが必要と思われる。